光通信用レーザにおける光周波数雑音測定装置の開発

当社はアジレント・テクノロジーの電子計測部門（現キーサイト・テクノロジー）から独立して平成21年に設立された。光・伝送関連の測定に関わるカスタムソリューション業務を引き継ぎ、引き合いから保守・運営まで一貫したサービスを提供している。大多数の大手計測器メーカーが取り組まないニッチな分野に集中している。

光通信用レーザの評価に使う光周波数雑音測定装置を構成する光干渉計と制御ソフトウエアを開発した。光周波数雑音特性をスペクトラムとして取得し、1/f雑音と白色雑音の分離、Lorentz線幅の算出などの解析ができる。結果はキーサイト・テクノロジー製シグナルアナライザーで表示する。性能は測定波長範囲1520〜1620nm、帯域20MHz、分解能100Hz以下、残留周波数雑音10Hz²/Hz以下を達成した。測定規格適合試験ソフトウェアも開発し、故意に印加された雑音に対する耐力を確認できるようにした。

光周波数雑音をスペクトラムで認識できるようになり、レーザ光源自体の雑音と周辺回路の雑音を分離して解析できるようになった。故意に印加された雑音に対する耐力も確認可能になった。世界で初めて実用化した測定技術として、展示会などで装置メーカーへの認知を広げている。

5G通信の拡大で光通信の高度な性能が求められ、装置の利用拡大が見込まれる。ガス・音響・振動のセンシングやデータセンターなどでも高いスペクトラム純度が必要とされると予想される。